工业CT
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一次扫描检查隐藏结构ZEISS METROTOM 1
借助易于使用的ZEISS METROTOM 1的博尔塔拉博尔塔拉蔡司博尔塔拉工业CT技术，只需一次扫描，任何人都能有效完成复杂的测量和检查任务。测量并检测接触式或光学测量系统无法检测到的隐藏缺陷和内部结构。另一个巧妙之处在于ZEISS METROTOM 1的尺寸。由于体积小，CT扫描系统很容易便能放置于您的测量实验室之中，可以一次性完成内部测量和检查。
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